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扫描电子显微镜+X射线能谱仪(SEM+EDS

收藏 2017-01-13
  • 广东省深圳市宝安区
  • 深圳市标研检测技术有限公司
  • 扫描电子显微镜测;X射线能谱仪测试;深圳能谱仪测试机;
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  • 详细信息
  • 产品特点

    扫描电子显微镜+X射线能谱仪(SEM+EDS)
       扫描电子显微镜利用二次电子或背散射电子成像,对样品表面放大一定的倍数进行形貌观察,*大放大倍数可达30万倍,同时利用电子激发出样品表面的特征X射线来对微区的成分进行定性定量分析
    测试范围:
    SEM的二次电子成像分辨率约3nm
    背散射电子成像分辨率约300nm
    EDS成分分析的元素范围Be~U
    分析深度约1μm
    检测下限约1%
    空间分辨率约1μm
    服务项目:
    各种固体材料的形貌分析
    微区化学成分检测
    样品成分的线分布和面分布分析



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