产品特点
扫描电子显微镜+X射线能谱仪(SEM+EDS) 扫描电子显微镜利用二次电子或背散射电子成像,对样品表面放大一定的倍数进行形貌观察,*大放大倍数可达30万倍,同时利用电子激发出样品表面的特征X射线来对微区的成分进行定性定量分析测试范围:SEM的二次电子成像分辨率约3nm背散射电子成像分辨率约300nmEDS成分分析的元素范围Be~U分析深度约1μm检测下限约1%空间分辨率约1μm服务项目:各种固体材料的形貌分析微区化学成分检测样品成分的线分布和面分布分析